測試晶體振蕩器的(如何使用示波器測試晶振?)
1.如何使用示波器測試晶振?
晶振包括無源晶振和有源晶振，通過示波器可以測量出晶振的起振波形，下面介紹測量晶振波形的方法。
1。無源晶振用示波器測量波形無源晶振在起振時兩個引腳都會有震蕩波形產(chǎn)生，用示波器探頭的負(fù)極接GND，正極接任何一個晶振引腳即可看到晶振的波形。
一般情況下，無源晶振起振的波形為正弦波，通過示波器可以看到正弦波形，測量其頻率應(yīng)和晶振的起振頻率一致。 有源晶振用示波器測量波形一般情況下，有源晶振有四個引腳，兩個供電引腳，一個輸出引腳，另一個引腳懸空或者接GND。
在測量時需要將示波器探頭的正極接輸出引腳，負(fù)極接GND。有源晶振輸出的波形有兩種：正弦波和方波。
這個主要看晶振是否集成了整形電路，如果內(nèi)部有整形電路則輸出方波，否則輸出正弦波。 測量時的注意事項在測量晶振波形時，一定要注意兩個事情：1）示波器的帶寬；2）負(fù)載電容。
示波器的帶寬一定要高于晶振的起振頻率，至少5倍，否則所測量的波形存在失真。晶振對負(fù)載電容比較敏感，所以測量時要盡量減少輸入電容對測量的影響。
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2.檢測晶振需要用到什么
一般情況下晶振兩電極間的阻值為無窮大。
首先：將萬用表撥在R*10k擋，兩表筆分別與晶振兩電極相碰，然后觀察表頭指示，指針應(yīng)在無窮大處不動；但是如果指針在無窮大處有輕微擺動，就說明石英晶體片有漏電現(xiàn)象或者是電極觸片與晶體片接觸不良，因為接觸不良就相當(dāng)于電極觸片在晶體片上劃動，就會產(chǎn)生電流，所以指針會發(fā)生輕微擺動；如果指針有偏轉(zhuǎn)，就說明晶體嚴(yán)重漏電；如果指針指到零位，說明晶體已擊穿損壞。另外測試時請注意：最好不要進(jìn)行在路測試，應(yīng)取下或焊脫一只腳后再進(jìn)行測試，否則誤差會很大，不易判斷。
3.如何校準(zhǔn) trimble 晶振的頻率
晶振分為無源晶振和有源晶振。有源晶振稱為石英晶體振蕩器，可以直接接上電源，用頻率計測量頻率及用示波器測量幅度。
無源晶振稱為石英晶體諧振器，其參數(shù)很多。較簡易的方法，可以搭載一個振蕩電路，用頻率計測量頻率，并替代電阻法，等效得出晶振諧振電阻。并用電容表直接測量晶振靜態(tài)電容。但由于振蕩槽路不平衡，較難測出準(zhǔn)確數(shù)值。
用阻抗計測量。可以較容易測量到Fs、Rr、C0、FL、Ts、CL等參數(shù)值，并可通過計算得出其它相關(guān)參數(shù)。缺點(diǎn)阻抗計一般數(shù)度有限，頻率值一般誤差在5ppm左右，其支架電感的嚴(yán)重影響，使串聯(lián)諧振頻率相位移較大，同時又干擾正確測量負(fù)載諧振頻率。另外，其測量有一定的局限性，只能測量質(zhì)量因數(shù)大于60以上的晶振，也不能進(jìn)行功率掃描和寄生掃描。
網(wǎng)絡(luò)分析儀測量。分為專用和通用兩種。專用網(wǎng)絡(luò)分析儀設(shè)置簡單，可以進(jìn)行全部晶振參數(shù)的測量，但不能它用。通用的網(wǎng)絡(luò)分析儀，設(shè)置較為繁雜，測量參數(shù)有限，但可以通過計算獲得。
相關(guān)測量方法及標(biāo)準(zhǔn)如下：
SJ/T 10638-1995 《石英晶體振蕩器測試方法》
GB 12274-1990 《石英晶體振蕩器總規(guī)范》
GB/T 12274.1-2012 《有質(zhì)量評定的石英晶體振蕩器 第1部分：總規(guī)范》
IEC 444 1973. Basic method forthe measurementof resonance frequency and equivalent series resis-tance of quartz crystal uNIts by zero phase technique in aπ-network [S].
GB/T 12273-1996石英晶體元件 電子元器件質(zhì)量評定體系規(guī)范 第1部分：總規(guī)范
SJ/T 11210-1999
石英晶體元件參數(shù)的測量 第4部分：頻率達(dá)30MHz石英晶體元件負(fù)載諧振頻率fL和負(fù)載諧振電阻RL的測量方法及其他導(dǎo)出參數(shù)的計算
