化學(xué)分析數(shù)據(jù)處理的方法(常用的化學(xué)分析方法)
1.常用的化學(xué)分析方法有哪些
化學(xué)分析方法多了去了
按照習(xí)慣大類分成化學(xué)分析法，電化學(xué)分析法和儀器分析法
化學(xué)分析里面包括滴定法（氧化還原滴定，酸堿滴定，絡(luò)合滴定等），重量分析法等等
電化學(xué)分析里面包括循環(huán)伏安，極譜，電解等等方法
儀器分析就更多了，紫外可見分光光度法（UV-Vis），原子發(fā)射光譜法，色譜法（包括氣相色譜GC，高效液相色譜HPLC），毛細(xì)管電泳（CE），核磁共振（NMR）,X粉末多晶衍射（XRD），質(zhì)譜（MS）等等~
化工數(shù)據(jù)處理一般都是套用每個(gè)反應(yīng)不同的熱力學(xué)和動力學(xué)模型來做的，特別是表觀動力學(xué)是肯定要做的
2.化學(xué)領(lǐng)域的數(shù)據(jù)分析方法
1、標(biāo)準(zhǔn)偏差（SD 、Standard Deviation） 一種量度數(shù)據(jù)分布的分散程度的標(biāo)準(zhǔn)，用以衡量數(shù)據(jù)值偏離算術(shù)平均值的程度。
標(biāo)準(zhǔn)偏差越小，這些值偏離平均值就越少，反之亦然。標(biāo)準(zhǔn)偏差的大小可通過標(biāo)準(zhǔn)偏差與平均值的倍率關(guān)系來衡量。
標(biāo)準(zhǔn)偏差公式：S = Sqr[∑（xn-x平均）^2 /(n-1)] Sqr……開平方，^……平方 2、相對標(biāo)準(zhǔn)偏差（RSD、Relative Standard Deviation） 相對標(biāo)準(zhǔn)偏差就是指：標(biāo)準(zhǔn)偏差與測量結(jié)果算術(shù)平均值的比值，用公式表示如下 RSD=SD/X，其中S為標(biāo)準(zhǔn)偏差，X為測量平均值 3、加標(biāo)回收率 加標(biāo)回收實(shí)驗(yàn)是化學(xué)分析中常用的實(shí)驗(yàn)方法，也是重要的質(zhì)控手段，回收率是判定分析結(jié)果準(zhǔn)確度的量化指標(biāo)。加標(biāo)實(shí)驗(yàn)及回收率的計(jì)算并不復(fù)雜，加標(biāo)方式可根據(jù)不同項(xiàng)目、不同分析方法和不同的需要靈活掌握，回收率的計(jì)算也各不相同，因此文獻(xiàn)[1 ]只給出回收率（記作R） 計(jì)算的定義公式： R = 加標(biāo)試樣測定值 - 試樣測定值/加標(biāo)量*100 %分析化學(xué) 呵呵，具體加標(biāo)回收率的操作 由于文字太多 就不貼出來了，再說也不知道對你到底是否有用。
如果有用的話，可以去下面的網(wǎng)址查看具體操作 1 列表法 將實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)按一定規(guī)律用列表方式表達(dá)出來是記錄和處理實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)最常用的方法。表格的設(shè)計(jì)要求對應(yīng)關(guān)系清楚、簡單明了、有利于發(fā)現(xiàn)相關(guān)量之間的物理關(guān)系；此外還要求在標(biāo)題欄中注明物理量名稱、符號、數(shù)量級和單位等；根據(jù)需要還可以列出除原始數(shù)據(jù)以外的計(jì)算欄目和統(tǒng)計(jì)欄目等。
最后還要求寫明表格名稱、主要測量儀器的型號、量程和準(zhǔn)確度等級、有關(guān)環(huán)境條件參數(shù)如溫度、濕度等。 本課程中的許多實(shí)驗(yàn)已列出數(shù)據(jù)表格可供參考，有一些實(shí)驗(yàn)的數(shù)據(jù)表格需要自己設(shè)計(jì)，表1.7—1是一個(gè)數(shù)據(jù)表格的實(shí)例，供參考。
表1.7—1 數(shù)據(jù)表格實(shí)例 楊氏模量實(shí)驗(yàn)增減砝碼時(shí)，相應(yīng)的鏡尺讀數(shù) 2 作圖法 作圖法可以最醒目地表達(dá)物理量間的變化關(guān)系。從圖線上還可以簡便求出實(shí)驗(yàn)需要的某些結(jié)果（如直線的斜率和截距值等），讀出沒有進(jìn)行觀測的對應(yīng)點(diǎn)（內(nèi)插法），或在一定條件下從圖線的延伸部分讀到測量范圍以外的對應(yīng)點(diǎn)（外推法）。
此外，還可以把某些復(fù)雜的函數(shù)關(guān)系，通過一定的變換用直線圖表示出來。例如半導(dǎo)體熱敏電阻的電阻與溫度關(guān)系為，取對數(shù)后得到，若用半對數(shù)坐標(biāo)紙，以lgR為縱軸，以1/T為橫軸畫圖，則為一條直線。
要特別注意的是，實(shí)驗(yàn)作圖不是示意圖，而是用圖來表達(dá)實(shí)驗(yàn)中得到的物理量間的關(guān)系，同 時(shí)還要反映出測量的準(zhǔn)確程度，所以必須滿足一定的作圖要求。 1）作圖要求 （1）作圖必須用坐標(biāo)紙。
按需要可以選用毫米方格紙、半對數(shù)坐標(biāo)紙、對數(shù)坐標(biāo)紙或極坐標(biāo)紙等。 （2）選坐標(biāo)軸。
以橫軸代表自變量，縱軸代表因變量，在軸的中部注明物理量的名稱符號及其單位，單位加括號。 （3）確定坐標(biāo)分度。
坐標(biāo)分度要保證圖上觀測點(diǎn)的坐標(biāo)讀數(shù)的有效數(shù)字位數(shù)與實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的有效數(shù)字位數(shù)相同。例如，對于直接測量的物理量，軸上最小格的標(biāo)度可與測量儀器的最小刻度相同。
兩軸的交點(diǎn)不一定從零開始，一般可取比數(shù)據(jù)最小值再小一些的整數(shù)開始標(biāo)值，要盡量使圖線占據(jù)圖紙的大部分，不偏于一角或一邊。對每個(gè)坐標(biāo)軸，在相隔一定距離下用整齊的數(shù)字注明分度（參閱圖1.7—1）。
(4)描點(diǎn)和連曲線。根據(jù)實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)用削尖的硬鉛筆在圖上描點(diǎn)，點(diǎn)子可用“+”、“*”、“⊙”等符號表示，符號在圖上的大小應(yīng)與該兩物理量的不確定度大小相當(dāng)。
點(diǎn)子要清晰，不能用圖線蓋過點(diǎn)子。連線時(shí)要縱觀所有數(shù)據(jù)點(diǎn)的變化趨勢，用曲線板連出光滑而細(xì)的曲線（如系直線可用直尺），連線不能通過的偏差較大的那些觀測點(diǎn)，應(yīng)均勻地分布于圖線的兩側(cè)。
（5）寫圖名和圖注。在圖紙的上部空曠處寫出圖名和實(shí)驗(yàn)條件等。
此外，還有一種校正圖線，例如用準(zhǔn)確度級別高的電表校準(zhǔn)低級別的電表。這種圖要附在被校正的儀表上作為示值的修正。
作校正圖除連線方法與上述作圖要求不同外，其余均同。校正圖的相鄰數(shù)據(jù)點(diǎn)間用直線連接，全圖成為不光滑的折線（見圖1.7—1）。
這是因?yàn)椴恢獌蓚€(gè)校正點(diǎn)之間的變化關(guān)系而用線性插入法作的近似處理。 圖1.7—1 校準(zhǔn)曲線圖示例 2）作圖舉例 表1.7—2所列數(shù)據(jù)是測量約利秤彈簧伸長與受力的關(guān)系。
測量彈簧長度使用帶有0.1mm游標(biāo)的米尺。加外力使用的是5個(gè)200mg的4級砝碼，其誤差限很小，對測量結(jié)果的不確定度的影響可以忽略。
表1.7—2 彈簧伸長與受力關(guān)系數(shù)據(jù)表 作圖示例見圖1.7—2。 圖1.7—2 作圖示例 如果所作圖線是一條直線，可以按以下方法求直線的斜率和截距。
直線方程為y=ax+b 其斜率（1.7—1） 在所作直線上選取相距較遠(yuǎn)的兩點(diǎn)P1、P2，從坐標(biāo)軸上讀取其坐標(biāo)值P1(X1,Y1)和P2(X2,Y2)代入式（1.7—1），可求得斜率a。P1、P2兩點(diǎn)一般不取原來測量的數(shù)據(jù)點(diǎn)。
為了便于計(jì)算，X1、X2兩數(shù)值可選取整數(shù)。在圖上標(biāo)出選取的P1、P2點(diǎn)及其坐標(biāo)。
斜率的有效數(shù)字位數(shù)要按有效數(shù)字運(yùn)算規(guī)則確定。 圖1.7—1例中勁度系數(shù) 截距b為x=0時(shí)的y值，可直接用圖線求出。
但有的圖線x軸的原點(diǎn)不在圖上，用延長圖線的辦法，如果延得太長，稍有偏。
3.數(shù)據(jù)分析的方法有哪些
總的分兩種：
1 列表法
將實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)按一定規(guī)律用列表方式表達(dá)出來是記錄和處理實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)最常用的方法。表格的設(shè)計(jì)要求對應(yīng)關(guān)系清楚、簡單明了、有利于發(fā)現(xiàn)相關(guān)量之間的物理關(guān)系；此外還要求在標(biāo)題欄中注明物理量名稱、符號、數(shù)量級和單位等；根據(jù)需要還可以列出除原始數(shù)據(jù)以外的計(jì)算欄目和統(tǒng)計(jì)欄目等。最后還要求寫明表格名稱、主要測量儀器的型號、量程和準(zhǔn)確度等級、有關(guān)環(huán)境條件參數(shù)如溫度、濕度等。
2 作圖法
作圖法可以最醒目地表達(dá)物理量間的變化關(guān)系。從圖線上還可以簡便求出實(shí)驗(yàn)需要的某些結(jié)果（如直線的斜率和截距值等），讀出沒有進(jìn)行觀測的對應(yīng)點(diǎn)（內(nèi)插法），或在一定條件下從圖線的延伸部分讀到測量范圍以外的對應(yīng)點(diǎn)（外推法）。此外，還可以把某些復(fù)雜的函數(shù)關(guān)系，通過一定的變換用直線圖表示出來。例如半導(dǎo)體熱敏電阻的電阻與溫度關(guān)系為，取對數(shù)后得到，若用半對數(shù)坐標(biāo)紙，以lgR為縱軸，以1/T為橫軸畫圖，則為一條直線。
4.化學(xué)領(lǐng)域的數(shù)據(jù)分析方法
1、標(biāo)準(zhǔn)偏差（SD 、Standard Deviation） 一種量度數(shù)據(jù)分布的分散程度的標(biāo)準(zhǔn)，用以衡量數(shù)據(jù)值偏離算術(shù)平均值的程度。
標(biāo)準(zhǔn)偏差越小，這些值偏離平均值就越少，反之亦然。標(biāo)準(zhǔn)偏差的大小可通過標(biāo)準(zhǔn)偏差與平均值的倍率關(guān)系來衡量。
標(biāo)準(zhǔn)偏差公式：S = Sqr[∑（xn-x平均）^2 /(n-1)] Sqr……開平方，^……平方 2、相對標(biāo)準(zhǔn)偏差（RSD、Relative Standard Deviation） 相對標(biāo)準(zhǔn)偏差就是指：標(biāo)準(zhǔn)偏差與測量結(jié)果算術(shù)平均值的比值，用公式表示如下 RSD=SD/X，其中S為標(biāo)準(zhǔn)偏差，X為測量平均值 3、加標(biāo)回收率 加標(biāo)回收實(shí)驗(yàn)是化學(xué)分析中常用的實(shí)驗(yàn)方法，也是重要的質(zhì)控手段，回收率是判定分析結(jié)果準(zhǔn)確度的量化指標(biāo)。加標(biāo)實(shí)驗(yàn)及回收率的計(jì)算并不復(fù)雜，加標(biāo)方式可根據(jù)不同項(xiàng)目、不同分析方法和不同的需要靈活掌握，回收率的計(jì)算也各不相同，因此文獻(xiàn)[1 ]只給出回收率（記作R） 計(jì)算的定義公式： R = 加標(biāo)試樣測定值 - 試樣測定值/加標(biāo)量*100 %分析化學(xué) 呵呵，具體加標(biāo)回收率的操作 由于文字太多 就不貼出來了，再說也不知道對你到底是否有用。
如果有用的話，可以去下面的網(wǎng)址查看具體操作 1 列表法 將實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)按一定規(guī)律用列表方式表達(dá)出來是記錄和處理實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)最常用的方法。表格的設(shè)計(jì)要求對應(yīng)關(guān)系清楚、簡單明了、有利于發(fā)現(xiàn)相關(guān)量之間的物理關(guān)系；此外還要求在標(biāo)題欄中注明物理量名稱、符號、數(shù)量級和單位等；根據(jù)需要還可以列出除原始數(shù)據(jù)以外的計(jì)算欄目和統(tǒng)計(jì)欄目等。
最后還要求寫明表格名稱、主要測量儀器的型號、量程和準(zhǔn)確度等級、有關(guān)環(huán)境條件參數(shù)如溫度、濕度等。 本課程中的許多實(shí)驗(yàn)已列出數(shù)據(jù)表格可供參考，有一些實(shí)驗(yàn)的數(shù)據(jù)表格需要自己設(shè)計(jì)，表1.7—1是一個(gè)數(shù)據(jù)表格的實(shí)例，供參考。
表1.7—1 數(shù)據(jù)表格實(shí)例 楊氏模量實(shí)驗(yàn)增減砝碼時(shí)，相應(yīng)的鏡尺讀數(shù) 2 作圖法 作圖法可以最醒目地表達(dá)物理量間的變化關(guān)系。從圖線上還可以簡便求出實(shí)驗(yàn)需要的某些結(jié)果（如直線的斜率和截距值等），讀出沒有進(jìn)行觀測的對應(yīng)點(diǎn)（內(nèi)插法），或在一定條件下從圖線的延伸部分讀到測量范圍以外的對應(yīng)點(diǎn)（外推法）。
此外，還可以把某些復(fù)雜的函數(shù)關(guān)系，通過一定的變換用直線圖表示出來。例如半導(dǎo)體熱敏電阻的電阻與溫度關(guān)系為，取對數(shù)后得到，若用半對數(shù)坐標(biāo)紙，以lgR為縱軸，以1/T為橫軸畫圖，則為一條直線。
要特別注意的是，實(shí)驗(yàn)作圖不是示意圖，而是用圖來表達(dá)實(shí)驗(yàn)中得到的物理量間的關(guān)系，同 時(shí)還要反映出測量的準(zhǔn)確程度，所以必須滿足一定的作圖要求。 1）作圖要求 （1）作圖必須用坐標(biāo)紙。
按需要可以選用毫米方格紙、半對數(shù)坐標(biāo)紙、對數(shù)坐標(biāo)紙或極坐標(biāo)紙等。 （2）選坐標(biāo)軸。
以橫軸代表自變量，縱軸代表因變量，在軸的中部注明物理量的名稱符號及其單位，單位加括號。 （3）確定坐標(biāo)分度。
坐標(biāo)分度要保證圖上觀測點(diǎn)的坐標(biāo)讀數(shù)的有效數(shù)字位數(shù)與實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的有效數(shù)字位數(shù)相同。例如，對于直接測量的物理量，軸上最小格的標(biāo)度可與測量儀器的最小刻度相同。
兩軸的交點(diǎn)不一定從零開始，一般可取比數(shù)據(jù)最小值再小一些的整數(shù)開始標(biāo)值，要盡量使圖線占據(jù)圖紙的大部分，不偏于一角或一邊。對每個(gè)坐標(biāo)軸，在相隔一定距離下用整齊的數(shù)字注明分度（參閱圖1.7—1）。
(4)描點(diǎn)和連曲線。根據(jù)實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)用削尖的硬鉛筆在圖上描點(diǎn)，點(diǎn)子可用“+”、“*”、“⊙”等符號表示，符號在圖上的大小應(yīng)與該兩物理量的不確定度大小相當(dāng)。
點(diǎn)子要清晰，不能用圖線蓋過點(diǎn)子。連線時(shí)要縱觀所有數(shù)據(jù)點(diǎn)的變化趨勢，用曲線板連出光滑而細(xì)的曲線（如系直線可用直尺），連線不能通過的偏差較大的那些觀測點(diǎn)，應(yīng)均勻地分布于圖線的兩側(cè)。
（5）寫圖名和圖注。在圖紙的上部空曠處寫出圖名和實(shí)驗(yàn)條件等。
此外，還有一種校正圖線，例如用準(zhǔn)確度級別高的電表校準(zhǔn)低級別的電表。這種圖要附在被校正的儀表上作為示值的修正。
作校正圖除連線方法與上述作圖要求不同外，其余均同。校正圖的相鄰數(shù)據(jù)點(diǎn)間用直線連接，全圖成為不光滑的折線（見圖1.7—1）。
這是因?yàn)椴恢獌蓚€(gè)校正點(diǎn)之間的變化關(guān)系而用線性插入法作的近似處理。 圖1.7—1 校準(zhǔn)曲線圖示例 2）作圖舉例 表1.7—2所列數(shù)據(jù)是測量約利秤彈簧伸長與受力的關(guān)系。
測量彈簧長度使用帶有0.1mm游標(biāo)的米尺。加外力使用的是5個(gè)200mg的4級砝碼，其誤差限很小，對測量結(jié)果的不確定度的影響可以忽略。
表1.7—2 彈簧伸長與受力關(guān)系數(shù)據(jù)表 作圖示例見圖1.7—2。 圖1.7—2 作圖示例 如果所作圖線是一條直線，可以按以下方法求直線的斜率和截距。
直線方程為y=ax+b 其斜率（1.7—1） 在所作直線上選取相距較遠(yuǎn)的兩點(diǎn)P1、P2，從坐標(biāo)軸上讀取其坐標(biāo)值P1(X1,Y1)和P2(X2,Y2)代入式（1.7—1），可求得斜率a。P1、P2兩點(diǎn)一般不取原來測量的數(shù)據(jù)點(diǎn)。
為了便于計(jì)算，X1、X2兩數(shù)值可選取整數(shù)。在圖上標(biāo)出選取的P1、P2點(diǎn)及其坐標(biāo)。
斜率的有效數(shù)字位數(shù)要按有效數(shù)字運(yùn)算規(guī)則確定。 圖1.7—1例中勁度系數(shù) 截距b為x=0時(shí)的y值，可直接用圖線求出。
但有的圖線x軸的原點(diǎn)不在圖上，用延長圖線的辦法，如果延得太長，稍有偏。
5.數(shù)據(jù)分析方法有哪些
一、描述性統(tǒng)計(jì)
描述性統(tǒng)計(jì)是一類統(tǒng)計(jì)方法的匯總，揭示了數(shù)據(jù)分布特性。它主要包括數(shù)據(jù)的頻數(shù)分析、數(shù)據(jù)的集中趨勢分析、數(shù)據(jù)離散程度分析、數(shù)據(jù)的分布以及一些基本的統(tǒng)計(jì)圖形。
1、缺失值填充：常用方法有剔除法、均值法、決策樹法。
2、正態(tài)性檢驗(yàn)：很多統(tǒng)計(jì)方法都要求數(shù)值服從或近似服從正態(tài)分布，所以在做數(shù)據(jù)分析之前需要進(jìn)行正態(tài)性檢驗(yàn)。常用方法：非參數(shù)檢驗(yàn)的K-量檢驗(yàn)、P-P圖、Q-Q圖、W檢驗(yàn)、動差法。
二、回歸分析
回歸分析是應(yīng)用極其廣泛的數(shù)據(jù)分析方法之一。它基于觀測數(shù)據(jù)建立變量間適當(dāng)?shù)囊蕾囮P(guān)系，以分析數(shù)據(jù)內(nèi)在規(guī)律。
1. 一元線性分析
只有一個(gè)自變量X與因變量Y有關(guān)，X與Y都必須是連續(xù)型變量，因變量Y或其殘差必須服從正態(tài)分布。
2. 多元線性回歸分析
使用條件：分析多個(gè)自變量X與因變量Y的關(guān)系，X與Y都必須是連續(xù)型變量，因變量Y或其殘差必須服從正態(tài)分布。
3.Logistic回歸分析
線性回歸模型要求因變量是連續(xù)的正態(tài)分布變量，且自變量和因變量呈線性關(guān)系，而Logistic回歸模型對因變量的分布沒有要求，一般用于因變量是離散時(shí)的情況。
4. 其他回歸方法：非線性回歸、有序回歸、Probit回歸、加權(quán)回歸等。
三、方差分析
使用條件：各樣本須是相互獨(dú)立的隨機(jī)樣本；各樣本來自正態(tài)分布總體；各總體方差相等。
1. 單因素方差分析：一項(xiàng)試驗(yàn)只有一個(gè)影響因素，或者存在多個(gè)影響因素時(shí)，只分析一個(gè)因素與響應(yīng)變量的關(guān)系。
2. 多因素有交互方差分析：一頊實(shí)驗(yàn)有多個(gè)影響因素，分析多個(gè)影響因素與響應(yīng)變量的關(guān)系，同時(shí)考慮多個(gè)影響因素之間的關(guān)系
3. 多因素?zé)o交互方差分析：分析多個(gè)影響因素與響應(yīng)變量的關(guān)系，但是影響因素之間沒有影響關(guān)系或忽略影響關(guān)系
4. 協(xié)方差分祈：傳統(tǒng)的方差分析存在明顯的弊端，無法控制分析中存在的某些隨機(jī)因素，降低了分析結(jié)果的準(zhǔn)確度。協(xié)方差分析主要是在排除了協(xié)變量的影響后再對修正后的主效應(yīng)進(jìn)行方差分析，是將線性回歸與方差分析結(jié)合起來的一種分析方法。
四、假設(shè)檢驗(yàn)
1. 參數(shù)檢驗(yàn)
參數(shù)檢驗(yàn)是在已知總體分布的條件下（一股要求總體服從正態(tài)分布）對一些主要的參數(shù)（如均值、百分?jǐn)?shù)、方差、相關(guān)系數(shù)等）進(jìn)行的檢驗(yàn) 。
2. 非參數(shù)檢驗(yàn)
非參數(shù)檢驗(yàn)則不考慮總體分布是否已知，常常也不是針對總體參數(shù)，而是針對總體的某些一般性假設(shè)（如總體分布的位罝是否相同，總體分布是否正態(tài)）進(jìn)行檢驗(yàn)。
適用情況：順序類型的數(shù)據(jù)資料，這類數(shù)據(jù)的分布形態(tài)一般是未知的。
1）雖然是連續(xù)數(shù)據(jù)，但總體分布形態(tài)未知或者非正態(tài)；
2）總體分布雖然正態(tài)，數(shù)據(jù)也是連續(xù)類型，但樣本容量極小，如10以下；
主要方法包括：卡方檢驗(yàn)、秩和檢驗(yàn)、二項(xiàng)檢驗(yàn)、游程檢驗(yàn)、K-量檢驗(yàn)等。
6.物理化學(xué)中數(shù)據(jù)處理的方法詳談
內(nèi)容太多，這里容不下，我這有三篇文獻(xiàn)，兩篇《Origin在物理化學(xué)實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)處理中的應(yīng)用》和《Ma thema t ica 編程技術(shù)在相圖繪制中的應(yīng)用》 Ma thema t ica 編程技術(shù)在相圖繪制中的應(yīng)用 摘要： 基于M athemat ica 系統(tǒng)研發(fā)了三元及四元水鹽體系相平衡溶度圖的計(jì)算機(jī)輔助繪制程序， 介紹了程序的設(shè)計(jì)思想、編制方法及功能與特色。
應(yīng)用該程序繪制了三元體系RbCl2SbCl32HOA c(25℃)、四元水鹽體系CsCl2P rCl3242%HA c2H2O (30℃) 及CsB r2N dB r3213%HB r2H2O (25℃) 的溶度圖。該程序操作便捷， 繪制相圖準(zhǔn)確、美觀， 且易于編輯排版， 同時(shí)有助于相化學(xué)數(shù)據(jù)庫的建立。
關(guān) 鍵 詞： 相平衡； 相圖繪制；M athemat ica； 坐標(biāo)轉(zhuǎn)換。
7.數(shù)據(jù)分析方法5種,數(shù)據(jù)分析有什么方法
借助工具，未至科技魔方是一款大數(shù)據(jù)模型平臺，是一款基于服務(wù)總線與分布式云計(jì)算兩大技術(shù)架構(gòu)的一款數(shù)據(jù)分析、挖掘的工具平臺，其采用分布式文件系統(tǒng)對數(shù)據(jù)進(jìn)行存儲，支持海量數(shù)據(jù)的處理。
采用多種的數(shù)據(jù)采集技術(shù)，支持結(jié)構(gòu)化數(shù)據(jù)及非結(jié)構(gòu)化數(shù)據(jù)的采集。通過圖形化的模型搭建工具，支持流程化的模型配置。
通過第三方插件技術(shù)，很容易將其他工具及服務(wù)集成到平臺中去。數(shù)據(jù)分析研判平臺就是海量信息的采集，數(shù)據(jù)模型的搭建，數(shù)據(jù)的挖掘、分析最后形成知識服務(wù)于實(shí)戰(zhàn)、服務(wù)于決策的過程，平臺主要包括數(shù)據(jù)采集部分，模型配置部分，模型執(zhí)行部分及成果展示部分等。
8.數(shù)據(jù)分析都有哪些方法
常用數(shù)據(jù)分析方法：聚類分析、因子分析、相關(guān)分析、對應(yīng)分析、回歸分析、方差分析； 問卷調(diào)查常用數(shù)據(jù)分析方法：描述性統(tǒng)計(jì)分析、探索性因素分析、Cronbach'a信度系數(shù)分析、結(jié)構(gòu)方程模型分析（structural equations modeling） 。
數(shù)據(jù)分析常用的圖表方法：柏拉圖（排列圖）、直方圖（Histogram）、散點(diǎn)圖（scatter diagram）、魚骨圖（Ishikawa）、FMEA、點(diǎn)圖、柱狀圖、雷達(dá)圖、趨勢圖。 數(shù)據(jù)分析統(tǒng)計(jì)工具：SPSS、minitab、JMP。
